諾瓦星云科技：MiniLED校正解決方案

　　隨著(zhù)越來(lái)越多的LED廠(chǎng)家進(jìn)入MiniLED領(lǐng)域，更小的點(diǎn)間距依賴(lài)新的封裝工藝來(lái)提升顯示屏的可靠性和防護性，其中COB和四合一就是一個(gè)主要的趨勢。這一趨勢在為觀(guān)眾更好的觀(guān)看體驗、提升屏的可靠性和防護性能、更加節能之外，也給行業(yè)帶來(lái)新的挑戰。

　　一方面，新工藝更新之后，傳統校正技術(shù)難以滿(mǎn)足均勻性要求。如下圖所示，COB校正后依然會(huì )存在明顯色塊。

　　為什么會(huì )存在這一問(wèn)題?

　　在SMD表貼燈珠的時(shí)期, 燈的點(diǎn)間距較大，燈對燈的亮度干擾相對有限。另外也沒(méi)有膠體的反射干擾，這樣我們就可以采集到相對準確的亮度值。

　　而在MiniLED時(shí)代，點(diǎn)間距越來(lái)越小，燈與燈的物理位置越來(lái)越近，導致燈與燈的亮度相互串擾明顯，圖像模糊重疊等現象愈發(fā)明顯。 除此之外，新工藝中表面膠體的封裝，導致光在傳遞中二次反射影響，造成光源干擾的加劇，對采集燈珠亮色度的準確性造成了影響。

　　另一方面，低灰表現和高灰表現有顯著(zhù)差異，低灰段不一致性問(wèn)題凸顯。

　　為什么會(huì )存在這一問(wèn)題?

　　低灰階效果和我們的電路設計、芯片的選型、硬件控制都有關(guān)聯(lián);低灰系數又極易受到以上條件的輕微影響而實(shí)現不準確，導致效果變差。

　　PWM驅動(dòng)帶來(lái)的低灰量化誤差

　　MiniLED校正解決方案

　　1、采用科學(xué)級相機，提高測量精度。

　　采用符合人眼感知特性的CIE-XYZ濾片，反映人眼真實(shí)感知。

　　CIE-XYZ科學(xué)級相機

CIE-XYZ濾片光譜曲線(xiàn)

　　常規相機處于成本的考慮，使用簡(jiǎn)易的Bayer濾片，Bayer濾片光譜不穩定，還存在毛刺過(guò)渡不平滑，這會(huì )導致嚴重的光譜測量誤差。

　　諾瓦打造的CIE-XYZ科學(xué)級相機的關(guān)鍵就在于CIE-XYZ濾片技術(shù)。諾瓦通過(guò)多年的濾片設計創(chuàng )新，持續的迭代，推出LED測量設計的濾片標定算法，確保測量的準確性。CIE-XYZ科學(xué)級相機選用多組轉輪，多次測量，得到符合人眼特性的測量數據,使得校正后更加貼近人眼感知的畫(huà)面效果。

　　2、改進(jìn)校正流程，增加消除混光處理。

　　諾瓦對采集圖像二次處理、還原自身亮度數據，重新計數真實(shí)亮度下的校正數據。提升屏體的均勻性，使得顯示效果更加細膩，這就是MiniLED全新的混光消除技術(shù)。

　　3、通過(guò)全灰階校正技術(shù)，提升灰階表現精度。

　　通過(guò)光槍CA-410采集灰階數據，再通過(guò)灰階修正工具計算修正系數，對各灰階進(jìn)行補償，改善非線(xiàn)性響應，最終通過(guò)硬件編碼，在諾瓦A8s、A10s Plus接收卡上使得灰階顯示臺階問(wèn)題得到優(yōu)化。

　　我們來(lái)看一組低灰階實(shí)拍圖，看看在全灰階校正前后的對比效果，我們會(huì )發(fā)現校正后的顯示屏畫(huà)面相較于校正前，麻點(diǎn)、色塊、偏色的問(wèn)題均得到了顯著(zhù)改善，均勻性和畫(huà)面細膩度大幅提升。

　　這就是諾瓦推出的MiniLED校正解決方案。通過(guò)CIE-XYZ科學(xué)級校正相機，配合貼近人眼的XYZ濾片，確保MiniLED采集的準確性。全灰階校正通過(guò)逐級灰階測量與優(yōu)化，解決灰階實(shí)現不準的難題。